Szacowanie koncentracji pierwiastków w próbkach geologicznych przy użyciu skanera rdzeni Geotek XRF

Wysokorozdzielcze analizy rdzeni osadów i skał są powszechnie wykorzystywane we współczesnych naukach o Ziemi, szczególnie w badaniach zapisu zmian środowiska i klimatu. Wydział Nauk Geograficznych i Geologicznych UAM, dzięki wsparciu programu IDUB, jest w posiadaniu skanera XRF (XRF-CS) firmy Geotek, który umożliwia przeprowadzanie wysokorozdzielczych, niedestrukcyjnych i szybkich analiz chemicznych próbek osadów. Podczas wykładu zostaną przedstawione możliwości i ograniczenia urządzenia poparte własnymi wynikami badań materiałów referencyjnych.